斷口圖像分析儀的測(cè)試原理與方法：
采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準(zhǔn)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
斷口圖像分析儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作。
儲(chǔ)存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進(jìn)行反復(fù)核對(duì)處理。
可以自動(dòng)繪制FATT曲線、ETT曲線等。
通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)對(duì)沖擊斷口形貌進(jìn)行全視野實(shí)時(shí)采樣，可完成對(duì)試樣的斷面纖維率、側(cè)膨脹值的測(cè)定。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作，可確認(rèn)試樣晶狀部分位置、形狀，并自動(dòng)判斷結(jié)果。
斷口圖像分析儀適用于對(duì)金屬材料落錘、擺錘沖擊試樣斷口、缺口、膨脹值、裂紋長(zhǎng)度、布氏硬度、維氏硬度、線、角度、圓心、矩形等測(cè)量分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)將沖擊試樣斷口形貌進(jìn)行全視野實(shí)時(shí)采樣，可完成對(duì)落錘、擺錘沖擊試樣斷口纖維率進(jìn)行測(cè)量。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作。儲(chǔ)存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進(jìn)行反復(fù)核對(duì)處理?？梢宰詣?dòng)繪制FATT曲線、ETT曲線等。
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